**工業射線曝光主要是利用X射線穿透物體并在探測器上形成圖像的原理**。
具體來說,工業射線曝光的過程涉及以下幾個關鍵步驟:
1. **X射線的產生**:X射線由射線源產生,這些射線具有連續的頻譜,也稱為白色X射線或連續譜。
2. **與物質相互作用**:當X射線照射到待測試件上時,射線光子與試件物質的原子發生相互作用。這些相互作用包括光電效應、康普頓效應和相干散射等,導致部分X射線光子被吸收或散射,即X射線在穿過物質時被衰減。
3. **衰減過程**:X射線的衰減過程與射線能量、物質密度和原子系數相關。對于單一能量的X射線束照射到密度和原子序數均勻的材料,衰減可以用公式I = I_0e^(-μL)表示,其中I是透射場強,I_0是入射場強,μ是衰減系數,L是材料厚度。
4. **圖像形成**:透射過的X射線作用于探測器上,探測器將接收到的射線強度轉換為圖像信號,然后通過數據采集系統和計算機系統處理,最終輸出為圖像。
總的來說,工業射線曝光技術是一種非破壞性的檢測方法,廣泛應用于材料科學、無損檢測和醫學診斷等領域。通過分析X射線穿透物體后的衰減情況,可以得到物體內部的結構和組成信息。